| 20 | | Cette étape peut être effectuée de deux manières (en général, elles sont utilisées conjointement). On peut attendre qu'un utilisateur du modèle signale un bogue. |
| 21 | | Avec cette méthode, on s'expose à des manifestations de mauvaise humeur de la part de l'utilisateur mécontent. On cherche donc à prévenir les problèmes, en développant différents scénarios (ou ''jeux de test''). Le but est alors de maximiser le ''taux de couverture'', en activant le maximum de fonctionnalités du circuit ou du système analysé. |
| | 20 | Cette étape peut être effectuée de deux manières (en général, elles sont utilisées conjointement). On peut attendre qu'un utilisateur du modèle signale un bogue. Avec cette méthode, on s'expose à des manifestations de mauvaise humeur de la part de l'utilisateur mécontent. On cherche donc à prévenir les problèmes, en développant différents scénarios (ou ''jeux de test''). Le but est alors de maximiser le ''taux de couverture'', en activant le maximum de fonctionnalités du circuit ou du système analysé. |
