'''Conception en vue du test (DFT)
'''

== Transparents des cours (téléchargeables en format .pdf) ==

 * [attachment:cours_dft_1.pdf  Cours1: Conception en vue du test, Généralités]
 * [attachment:cours_dft_2.pdf  Cours2: ATPG, Principe et Généralités]
 * [attachment:Algo_D_Khouas.pdf  Cours2_bis: Compléments Algorithme D]

 * [attachment:cours_dft_3.pdf  Cours3: Techniques de conception en vue du test]
 * [attachment:cours_dft_4.pdf  Cours4: Test Intégré: BIST]
 * [attachment:BIST_Khouas.pdf  Cours4_Bis: Compléments_BIST]

== Travaux Pratiques ==
 * [attachment:tutorial_tetramax.pdf  INTRO: Tutorial sur Tetramax]
 * [attachment:tp1_09_10.pdf TP1: Test structurel d'un circuit combinatoire avec Tetramax]
 * [attachment:tp2_seq_09_10.pdf TP2: Test structurel des circuits séquentiels avec Tetramax ]
 * [attachment:tp3_4_bist_09_10.pdf TP3-4: Conception d'architecture autotestable]

== Annales d'examens (téléchargeables en format .pdf) ==

 * [attachment:Enonce_exam_dft_janv07.pdf   Annale 1: Exam Janvier 2007 ]
 * [attachment:Enonce_exam_dft_avril08.pdf  Annale 2: Exam Avril 2008 ]

== Papers ==

 * [attachment:LFSR_versus_Counters.pdf  Pourquoi on utilise des LFSR au lieu des compteurs pour generer les sequences de test ?]